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- Volker JungnickelFraunhofer Heinrich Hertz Institute (HHI) and Technische Universität Berlin (TUB)確認したメール アドレス: hhi.fraunhofer.de
- Wen XuHuawei確認したメール アドレス: ieee.org
- Mate BobanHuawei Technologies, Munich Research Center確認したメール アドレス: cmu.edu
- Tommy SvenssonChalmers University of Technology確認したメール アドレス: chalmers.se
- Moritz LossowFraunhofer Heinrich Hertz Institute確認したメール アドレス: hhi.fraunhofer.de
- Apostolos KousaridasNokia確認したメール アドレス: nokia.com
- wolfgang zirwasNokia Networks確認したメール アドレス: nokia.com
- Christian OberliAssociate Professor of Electrical Engineering, Pontificia Universidad Católica de Chile確認したメール アドレス: uc.cl
- Miguel Angel Gutierrez EstevezHuawei確認したメール アドレス: huawei.com
- Thomas HausteinFraunhofer Heinrich Hertz Institute Berlin確認したメール アドレス: hhi.fraunhofer.de
- Stephan JaeckelFraunhofer Heinrich Hertz Institute, Berlin, Germany確認したメール アドレス: hhi.fraunhofer.de
- A. LayaEricsson確認したメール アドレス: ericsson.com
- Jesus Alonso-Zaratei2cat Foundation確認したメール アドレス: i2cat.net
- David M. Gutierrez-EstevezChief Engineer, Samsung R&D Institute UK確認したメール アドレス: samsung.com
- Toktam MahmoodiCentre for Telecommunications Research, Department of Engineering, King's College London確認したメール アドレス: kcl.ac.uk
- Ricard VilaltaResearch Director, CTTC-CERCA確認したメール アドレス: cttc.es
- Taimoor AbbasPhD, Lund University, Sweden確認したメール アドレス: eit.lth.se
- Samer BazziSenior staff research specialist, Nokia確認したメール アドレス: nokia.com
- Lars ThieleFraunhofer Heinrich Hertz Institute確認したメール アドレス: hhi.fraunhofer.de
- Fernando E. RosasLecturer at University of Sussex確認したメール アドレス: imperial.ac.uk