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- Youngchul SungProfessor, Electrical Engineering, KAIST確認したメール アドレス: ee.kaist.ac.kr
- Md Saifur RahmanSamsung Research America - Dallas確認したメール アドレス: samsung.com
- Jeongho JeonSamsung Research America, MV, CA確認したメール アドレス: samsung.com
- Donggun KimSamsung Electronics確認したメール アドレス: kaist.ac.kr
- Dalin ZhuSamsung Research America, Inc.確認したメール アドレス: utexas.edu
- Brian L. EvansEngineering Foundation Professor, ECE, WNCG, University of Texas at Austin確認したメール アドレス: ece.utexas.edu
- Jinseok ChoiKorea Advanced Institute of Science and Technology (KAIST)確認したメール アドレス: kaist.ac.kr
- Masahiro YukawaKeio University確認したメール アドレス: elec.keio.ac.jp
- Juho ParkETRI確認したメール アドレス: etri.re.kr
- Ahmad A. I. IbrahimApple確認したメール アドレス: apple.com
- Marios KountourisProfessor, EURECOM, France確認したメール アドレス: eurecom.fr
- Younsun KimSamsung確認したメール アドレス: samsung.com
- Gary XuSamsung Research America確認したメール アドレス: samsung.com
- Jin YuanSamsung Research America - Dallas確認したメール アドレス: samsung.com
- Jianzhong (Charlie) ZhangSamsung確認したメール アドレス: samsung.com
- Heejung YuDept. of Electronics and Information Eng., Korea University確認したメール アドレス: korea.ac.kr
- Junse LeeUT Austin, Samsung Electronics, KAIST確認したメール アドレス: utexas.edu
- Song NohIncheon National University確認したメール アドレス: inu.ac.kr
- Leiming ZhangHuawei Technologies確認したメール アドレス: huawei.com
- Ahmed AlkhateebAssociate Professor, Arizona State University確認したメール アドレス: asu.edu