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- Takao SomeyaProfessor, Department of Electric and Electronic Engineering, The University of Tokyo確認したメール アドレス: ee.t.u-tokyo.ac.jp
- Tomoyuki YokotaUniversity of Tokyo確認したメール アドレス: ntech.t.u-tokyo.ac.jp
- Mitsuru TakenakaThe University of Tokyo確認したメール アドレス: mosfet.t.u-tokyo.ac.jp
- Shinichi TakagiThe University of Tokyo確認したメール アドレス: ee.t.u-tokyo.ac.jp
- Sanghyeon KimKAIST, KIST, imec, The University of Tokyo確認したメール アドレス: kaist.ac.kr
- Hanbit JinETRI確認したメール アドレス: etri.re.kr
- Naoji MatsuhisaAssociate Professor, Research Center for Advanced Science and Technology, The University of Tokyo確認したメール アドレス: iis.u-tokyo.ac.jp
- Yan Wang (王 燕)Guangdong Technion, Israel Institute of Technology; The University of Tokyo; Monash University (PhD)確認したメール アドレス: technion.ac.il
- Kenjiro FukudaThin-Film Device Laboratory, RIKEN確認したメール アドレス: riken.go.jp
- Amir ReuvenyCornell Tech確認したメール アドレス: cornell.edu
- Takuya HoshiiTokyo Institute of Technology確認したメール アドレス: m.titech.ac.jp
- Ryosho NakaneThe University of Tokyo確認したメール アドレス: cryst.t.u-tokyo.ac.jp
- Robert NawrockiAssistant Professor, Purdue University確認したメール アドレス: purdue.edu
- Wonryung LeeKorea Institute of Science and Technology (KIST)確認したメール アドレス: kist.re.kr
- Sungjun ParkElectrical and Computer Engineering, Ajou University確認したメール アドレス: ajou.ac.kr
- Hyunjae LeeStaff Engineer, Material Development Team, Samsung Semiconductor R&D Center