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Coauteurs
- Mitsuru TakenakaThe University of TokyoAdresse e-mail validée de mosfet.t.u-tokyo.ac.jp
- Yukihiro ShimogakiProfessor of Materials Engineering, The University of TokyoAdresse e-mail validée de dpe.mm.t.u-tokyo.ac.jp
- Takuo TanemuraThe University of TokyoAdresse e-mail validée de ee.t.u-tokyo.ac.jp
- Shinichi TakagiThe University of TokyoAdresse e-mail validée de ee.t.u-tokyo.ac.jp
- Yi LUOTsinghua UniversityAdresse e-mail validée de tsinghua.edu.cn
- Kasidit ToprasertpongThe University of TokyoAdresse e-mail validée de mosfet.t.u-tokyo.ac.jp
- Tetsuya MizumotoTokyo Institute of TechnologyAdresse e-mail validée de pe.titech.ac.jp
- Katsushi FujiiRIKEN, RAPAdresse e-mail validée de rcast.u-tokyo.ac.jp
- Abdullah Al AminThe University of MelbourneAdresse e-mail validée de unimelb.edu.au
- Haizheng SongUniversity of South CarolinaAdresse e-mail validée de engr.sc.edu
- Tomohiro AmemiyaAssociate Professor, School of Engineering, Tokyo Institute of TechnologyAdresse e-mail validée de m.titech.ac.jp
- nicola calabrettaTechnical University of EindhovenAdresse e-mail validée de tue.nl
- Takuya HoshiiTokyo Institute of TechnologyAdresse e-mail validée de m.titech.ac.jp
- Prof. Govind P. AgrawalThe Institute of Optics, University of RochesterAdresse e-mail validée de optics.rochester.edu
- Samir GhoshTyndall National Institute, IrelandAdresse e-mail validée de tyndall.ie
- Roel BaetsGhent UniversityAdresse e-mail validée de ugent.be
- Pham Nam HaiTokyo Institute of TechnologyAdresse e-mail validée de m.titech.ac.jp
- Tomofumi OyamaSynspective Inc.Adresse e-mail validée de synspective.com
- Diego Alonso ÁlvarezImperial College LondonAdresse e-mail validée de imperial.ac.uk
- Meint SmitEindhoven University of Technology, The NetherlandsAdresse e-mail validée de tue.nl