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- Zhenan BaoStanford University確認したメール アドレス: stanford.edu
- Joo Yong SimElectronics and Telecommunications Research Institute確認したメール アドレス: etri.re.kr
- Jin-Oh KimKAIST (Korea Advanced Institute of Science and Technology)確認したメール アドレス: kaist.ac.kr
- Michael VosgueritchianGraduate Student, Stanford University確認したメール アドレス: stanford.edu
- Jinwon OhStanford University確認したメール アドレス: stanford.edu
- Huiliang (Evan) WangAssistant Professor of Biomedical Engineering, University of Texas at Austin確認したメール アドレス: utexas.edu
- Young Jun ParkSamsung Research, Samsung Electronics確認したメール アドレス: samsung.com
- Ja Hoon KooSejong University, Department of Semiconductor Systems Engineering確認したメール アドレス: sejong.ac.kr
- Julia ReinspachStanford University確認したメール アドレス: stanford.edu
- Stefan C. B. MannsfeldTechnische Universität Dresden確認したメール アドレス: tu-dresden.de
- Gregory PitnerTSMC Corporate Research確認したメール アドレス: pitner.com
- Gaurav GiriUniversity of Virginia確認したメール アドレス: virginia.edu
- Hyunjin KimSAIT確認したメール アドレス: samsung.com
- Luckshitha Suriyasena LiyanageNIST, Applied Materials, Western Digital Corporation, Stanford University確認したメール アドレス: stanford.edu
- Ying DiaoChemical and Biomolecular Engineering, University of Illinois at Urbana-Champaign確認したメール アドレス: illinois.edu
- H.-S. Philip WongProfessor of Electrical Engineering, Stanford University確認したメール アドレス: stanford.edu
- Tae Hoon LeeStanford University確認したメール アドレス: stanford.edu