自分のプロフィールを作成
オープン アクセス
すべて表示3 件の論文
4 件の論文
利用可能
利用不可
助成機関の要件に基づく
共著者
Makoto NagataProfessor, Kobe University確認したメール アドレス: cs.kobe-u.ac.jp
Takayasu SakuraiUniversity of Tokyo確認したメール アドレス: iis.u-tokyo.ac.jp
Daisuke FujimotoNara Institute of Science and Technology確認したメール アドレス: is.naist.jp
Yu-ichi HAYASHINara Institute of Science and Technology確認したメール アドレス: is.naist.jp
Takuji MikiKobe University確認したメール アドレス: port.kobe-u.ac.jp
Kazuo SakiyamaThe University of Electro-Communications確認したメール アドレス: uec.ac.jp
Naofumi HommaTohoku University確認したメール アドレス: riec.tohoku.ac.jp
Kohei MatsudaKobe University確認したメール アドレス: cs26.scitec.kobe-u.ac.jp
Kiichi NiitsuKyoto University確認したメール アドレス: i.kyoto-u.ac.jp
Jean-Luc DangerLTCI, Télécom Paris, Institut Polytechnique de Paris確認したメール アドレス: enst.fr
Shivam BhasinNTU Singapore確認したメール アドレス: ntu.edu.sg
Hideharu AmanoKeio University確認したメール アドレス: am.ics.keio.ac.jp
Hiroki MatsutaniDept of ICS, Keio University確認したメール アドレス: arc.ics.keio.ac.jp
Yusmeeraz YusofUniversiti Teknologi Malaysia確認したメール アドレス: utm.my
Takeshi SugawaraThe University of Electro-Communications確認したメール アドレス: uec.ac.jp
Hayun ChungAssistant Professor of Electronics and Information Engineering, Korea University確認したメール アドレス: korea.ac.kr
Jakub BreierSenior Cybersecurity Manager, TTControl GmbH, Vienna, Austria確認したメール アドレス: ttcontrol.com
Zakaria NajmResearch Associate,NTU Singapore確認したメール アドレス: ntu.edu.sg
Lan NanQualcomm Technologies Inc./ University of California, Los Angeles確認したメール アドレス: ee.ucla.edu
Won-Joo (Ryan) YunCorporate VP, Samsung Electronics確認したメール アドレス: samsung.com